1951(昭和26)年10月31日秋田県生まれ。中央大学理工学部卒業。1975(昭和50)年4月ミナトエレクトロニクス(株)入社。1979(昭和54)年7月半導体検査装置大手・テラダイン(株)入社、液晶・CCD関係の検査装置開発プロジェクトをプロジェクトリーダーとして統括。1993(平成5)年8月ウインテスト(有)を横浜市中区弁天通に設立代表取締役。1995(平成7)年7月7月株式会社に組織変更しウインテスト(株)設立代表取締役社長。2003(平成15)年9月3日東京証券取引所マザーズに上場。
薄型ディスプレイパネルと撮像半導体の検査装置を開発、設計、販売などを手掛けるファブレス(工場を持たない)メーカー。デジカメやカメラ付携帯電話に使われるＣＣＤやＣＭＯＳと呼ばれるイメージセンサー(撮像半導体)の検査装置と、有機ＥＬ(エレクトロルミネッセンス)、低温・高温ポリシリコン液晶といったディスプレイの検査装置をファブレスで展開している。
(2004/2/17)
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